|
В соответствии с грантами РФФИ (10-08-91219-СТ) и TUBITAK «Влияние морфологии, условий получения и внешних воздействий на диэлектрическую и магнитную проницаемости наночастиц и нанокомпозитов» за время визита будет осуществлено исследование общих принципов функционирования сложного оборудования принадлежащего Анкарскому университету: установки рентгенодифракционного анализа (XRD); сканирующего электронного микроскопа (SEM); просвечивающего электронного микроскопа (TEM); установки EFM (electric force microscopy), MFM (magnetic force microscopy), KPB (Kelvin probe microscopy) и SCM (scanning capacitance microscopy). Будут обсуждены планы дальнейших совместных научных исследований в области создания и исследования структурных и физических характеристик микро- и наноструктур, композиционных материалов. Будут обсуждаться методы изучения физических явлений в таких структурах при изменении их размеров, условий изготовления и влиянии внешних воздействий.
|
|